Il brevetto qui analizzato riguardante un MICROSCOPIO A SCANSIONE IONICA (US4236073A) fu depositato negli USA il 25 Novembre 1980 dall'inventore Frederick W. Martin.
Il perfezionamento di tale microscopio si colloca in un periodo di grande attività scientifica, si era giunti ,infatti ,già da alcuni decenni all'utilizzo non più del tradizionale microscopio ottico, bensì all' impiego in laboratorio del microscopio elettronico.Quest'ultima apparecchiatura consisteva nel colpire attraverso un fascio di elettroni punto per punto l'intera superficie da analizzare, focalizzando gli elettroni eccitati del campione su una lastra fotografica o su un tubo televisivo.
Con la presente invenzione, Frederick W. Martin cercò ,invece, di aggirare alcuni limiti del microscopio elettronico come per esempio la disintegrazione del campione nell'interagire con il fascio di elettroni.
Il nuovo microscopio ,infatti, non adottava più elettroni ma ioni che interagendo producevano raggi X caratteristici nel campione con un'energia ben nota per ciascun elemento chimico.
Il microscopio era , inoltre, costituito da rivelatori sensibili all'energia utili per distinguere i raggi X emessi dal substrato, costituito di solito da boro, berillio o composti contenenti solo idrogeno e litio ,riuscendo, quindi, a ottenere in linea di principio una risoluzione migliore di un Angstrom.
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