Nel corso degli ultimi decenni del XX secolo, nel campo della microscopia ,furono effettuati molteplici passi in avanti soprattutto nell' utilizzo progressivo di nuove tecnologie in grado di migliorare sia la risoluzione delle immagini in laboratorio sia per quanto riguarda la capacità di minimizzare gli effetti delle interazione tra campione analizzato e strumento adottato .
Il nuovo microscopio a scansione ionica dell'inventore Frederick
W. Martin. utilizzando ioni che interagendo producevano raggi X ,si ispirò
nell' applicazione di questa nuova tecnologia a brevetti di strumenti già
collaudati in passato, esempio :
L'invenzione “ELECTRON
LENS” (US2919381A) di Walter Glaser del 1956 riguardante lenti a elettroni che
operano stigmaticamente nel campo delle diottrie gaussiane costituite da
quattro poli, elettrostatici o elettromagnetici, opportunamente distanziati
secondo i principi dell'invenzione e ruotati l'uno rispetto all'altro attorno al loro asse comune, impiegate
secondo l'invenzione come lenti di proiezione in combinazione con una
precedente lente obiettivo. La lente ionica (US3617739A)di Helmut Liebl del 1969 utilizzata per fornire uno ione focalizzato ,o fascio di ioni e di elettroni su un bersaglio .
Il Microscopio a scansione ionica con lente a settore magnetico per purificare il fascio ionico primario (US3517191A) di Helmut J Liebl del 1965 costituito da una sonda ionica in cui l’immagine viene ottenuta mettendo a fuoco il fascio ionico primario in un punto molto piccolo sul campione, da uno spettrometro di massa e da una lente a settore magnetico per purificare il fascio principale.
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